| Найдено документов - 1 | Найти похожие: "Индекс ББК" = '34.94' | Версия для печати |
Сортировать по:
1. Статья из журнала
Разработка широкопольного сканера-профилометра и новых способов измерения твердости для первого в мире атомно-силового микроскопа - спутника Земли = Б. А. Логинов, В. А. Беспалов, А. Н. Образцов [и др.]. – Текст : непосредственный
// Наноиндустрия. – 2024. – Т. 17, № 5. – С. 248–258. – ISSN 1993-8578. – Библиогр.: с. 258 (7 назв.). – 7 рис.
// Наноиндустрия. – 2024. – Т. 17, № 5. – С. 248–258. – ISSN 1993-8578. – Библиогр.: с. 258 (7 назв.). – 7 рис.
Авторы: Логинов, Б. А., Беспалов, В. А., Образцов, А. Н., Логинов, А. Б., Логинов, В. Б., Хрипунов, Ю. В., Щербина, М. А., Севостьянова, Д. А., Богданова, Д. С., Горбачев, Р. Г., Кондратьева, К. Е., Лебедева, М. А., Мульгин, А. А., Шевченко, Д. А.
Тематические рубрики: Периодические издания—Статьи; Детали, узлы и устройства приборов
Ключевые слова: сканирующая зондовая микроскопия, сканирующая туннельная микроскопия, сканирующая атомно-силовая микроскопия, профилометрия, спутники Земли, космическая пыль, солнечный ветер, метеориты, твердость, индентирование
Ссылка на web-ресурс: https://eivis.ru/browse/issue/14237642/udb/12 - Электронная версия (PDF)
Подробнее
Аннотация: Предложена новая конструкция сканера для атомно-силового микроскопа-спутника, предназначенного для работы в течение нескольких лет в автономном режиме в открытом космосе с целью исследования орбит на содержание микро-и наночастиц пыли на базе профилометра в качестве одной из осей сканирования.