| Найдено документов - 1 | Источник: Разработка широкопольного сканера-профилометра и новых способов измерения твердости для первого в мире атомно-силового микроскопа - спутника Земли = Б. А. Логинов, В. А. Беспалов, А. Н. Образцов... | Версия для печати |
Сортировать по:
1. Номер журнала
| Наноиндустрия : научно-технический журнал. Т. 17, № 5 (130). – Москва : Техносфера, 2024. | |
| Поиск: | Статьи из номера журнала (сборника) Источник |
| Ссылка на web-ресурс: | https://eivis.ru/browse/issue/14237642/udb/12 - Режим доступа: для авториз. пользователей |