| Найдено документов - 1 | Источник: Смирнов, А. В. (инженер; Чувашский государственный университет им. И. Н. Ульянова). Косвенный метод определения толщины тонких пленок металлов по интерференционному эффекту на пленках селена = De... | Версия для печати |
Сортировать по:
1. Номер журнала
Наноиндустрия : научно-технический журнал. Т. 16, № 2 (120). – Москва : Техносфера, 2023.